Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Setting probing force and scanning speed of fast microprobes for non-destructive roughness and microform measurements

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F21%3AN0000090" target="_blank" >RIV/00177016:_____/21:N0000090 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://www.ptb.de/empir2018/fileadmin/documents/empir/MicroProbes/Good_Practice_Guide_No_2_MicroProbes_Force_Speed.pdf" target="_blank" >https://www.ptb.de/empir2018/fileadmin/documents/empir/MicroProbes/Good_Practice_Guide_No_2_MicroProbes_Force_Speed.pdf</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Setting probing force and scanning speed of fast microprobes for non-destructive roughness and microform measurements

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This Good Practice Guide (GPG) was developed during the course of the EMPIR project MicroProbes “Multifunctional ultrafast microprobes for on ‐ the ‐ machine measurements”. Within this project fast piezoresistive silicon microprobes were developed for fast roughness measurements and mechanical property measurements. During fast tactile topography measurements, the inertia of the microprobe cantilever creates dynamic forces which might lead to tip flight and thus measurement errors. To prevent from tip flight, usually the highest possible probing forces are used. These are mainly given by the hardness of the surface to be measured. The Good Practice Guide helps users of microprobes to set the probing force and the maximum scanning speed of their microprobing system for reliable topography and roughness measurements.

  • Název v anglickém jazyce

    Setting probing force and scanning speed of fast microprobes for non-destructive roughness and microform measurements

  • Popis výsledku anglicky

    This Good Practice Guide (GPG) was developed during the course of the EMPIR project MicroProbes “Multifunctional ultrafast microprobes for on ‐ the ‐ machine measurements”. Within this project fast piezoresistive silicon microprobes were developed for fast roughness measurements and mechanical property measurements. During fast tactile topography measurements, the inertia of the microprobe cantilever creates dynamic forces which might lead to tip flight and thus measurement errors. To prevent from tip flight, usually the highest possible probing forces are used. These are mainly given by the hardness of the surface to be measured. The Good Practice Guide helps users of microprobes to set the probing force and the maximum scanning speed of their microprobing system for reliable topography and roughness measurements.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    21100 - Other engineering and technologies

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/8B18006" target="_blank" >8B18006: Multifunctional ultrafast microprobes for on-the-machine measurements</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2021

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů