Porovnání metod měření komplexní permitivity materiálů v mikrovlnné a sub-terahertzové oblasti

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F23%3AN0000042" target="_blank" >RIV/00177016:_____/23:N0000042 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://mt.ces-csvts.cz/download/Hudlicka_permitivita_web.pdf" target="_blank" >http://mt.ces-csvts.cz/download/Hudlicka_permitivita_web.pdf</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Porovnání metod měření komplexní permitivity materiálů v mikrovlnné a sub-terahertzové oblasti

Popis výsledku v původním jazyce

Měření materiálových parametrů, zejména komplexní permitivity, je důležité pro vývoj mikrovlnných a THz technologií, např. substrátů a dielektrických komponent pro telekomunikační (pouzdra mobilních terminálů, substráty) a automobilový průmysl (senzory pro autonomní vozidla, radarové systémy). Potřeba přesného měření komplexní permitivity se ukazuje i v oblasti biomedicíny, vesmírných aplikacích (radomy antén), materiálovém výzkumu a dalších oblastech. Pro porovnání mezí použitelnosti jednotlivých měřicích systémů a metod pro extrakci materiálových parametrů bylo v rámci projektu TEMMT zorganizováno mezilaboratorní porovnání měření materiálových parametrů v kmitočtovém rozsahu 50 GHz až 3 THz.

Název v anglickém jazyce

Comparison of methods for complex permittivity measurement in the microwave and sub-THz domain

Popis výsledku anglicky

Measurement of material parameters, especially complex permittivity, is important for the development of microwave and THz technologies, e.g. substrates and dielectric components for the telecommunications (mobile terminal housings, substrates) and automotive industries (sensors for autonomous vehicles, radar systems). The need for accurate measurement of complex permittivity is also evident in the field of biomedicine, space applications (radome antennas), material research and other fields. To compare the applicability limits of individual measuring systems and methods for extracting material parameters, an interlaboratory comparison of material parameter measurements in the frequency range of 50 GHz to 3 THz was organized within the TEMMT project.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

20201 - Electrical and electronic engineering

Projekt

<a href="/cs/project/8B19011" target="_blank" >8B19011: Traceability for electrical measurements at milimetre-wave and terahertz frequencies for communications and electronics technologies</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2023

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

56. pravidelné setkání zájemců o mikrovlnnou techniku

ISBN

978-80-02-03017-1

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

1-8

Název nakladatele

Česká elektrotechnická společnost, z.s.

Místo vydání

Praha, ČR

Místo konání akce

Praha

Datum konání akce

17. 5. 2023

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—