Porovnání měření materiálových parametrů na milimetrových a sub-THZ kmitočtech pomocí optických, rezonančních a VNA metod

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F23%3AN0000041" target="_blank" >RIV/00177016:_____/23:N0000041 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://www.unmz.cz/wp-content/uploads/Metrologie-3-23-titul-str-obsah.pdf" target="_blank" >https://www.unmz.cz/wp-content/uploads/Metrologie-3-23-titul-str-obsah.pdf</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Porovnání měření materiálových parametrů na milimetrových a sub-THZ kmitočtech pomocí optických, rezonančních a VNA metod

Popis výsledku v původním jazyce

Měření materiálových parametrů, zejména komplexní permitivity, je důležité pro vývoj mikrovlnných a THz technologií, např. substrátů a dielektrických komponent pro telekomunikace (pouzdra mobilních terminálů, substráty) a automobilový průmysl (senzory pro autonomní vozidla, radarové systémy). Potřeba přesného měření komplexní permitivity se ukazuje i v oblasti biomedicíny (tělní implantáty), vesmírných aplikacích (radomy antén), materiálovém výzkumu a dalších oblastech. Pro porovnání mezí použitelnosti jednotlivých systémů a metod pro extrakci materiálových parametrů bylo v rámci EURAMET EMPIR projektu TEMMT zorganizováno mezilaboratorní porovnání měření materiálových parametrů v kmitočtovém rozsahu 50 GHz až 3 THz pomoc různých metod.

Název v anglickém jazyce

Comparison of measurements of material parameters at millimeter and sub-THZ frequencies using optical, resonance and VNA methods

Popis výsledku anglicky

Measurement of material parameters, especially complex permittivity, is important for the development of microwave and THz technologies, e.g. substrates and dielectric components for telecommunications (mobile terminal housings, substrates) and the automotive industry (sensors for autonomous vehicles, radar systems). The need for accurate measurement of complex permittivity is also evident in the field of biomedicine (body implants), space applications (antenna radomes), materials research and other areas. To compare the applicability limits of individual systems and methods for extracting material parameters, an interlaboratory comparison of material parameter measurements in the frequency range of 50 GHz to 3 THz using different methods was organized within the EURAMET EMPIR project TEMMT.

Druh

J_ost - Ostatní články v recenzovaných periodicích

CEP obor

—

OECD FORD obor

20201 - Electrical and electronic engineering

Projekt

<a href="/cs/project/8B19011" target="_blank" >8B19011: Traceability for electrical measurements at milimetre-wave and terahertz frequencies for communications and electronics technologies</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2023

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Metrologie

ISSN

1210-3543

e-ISSN

—

Svazek periodika

32

Číslo periodika v rámci svazku

3

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

4-10

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—