Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Wide spectral range optical characterization of tantalum pentoxide (Ta2O5) films by the universal dispersion model

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F25%3AN0000121" target="_blank" >RIV/00177016:_____/25:N0000121 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/00216224:14310/25:00141079

  • Výsledek na webu

    <a href="https://opg.optica.org/ome/fulltext.cfm?uri=ome-15-4-903" target="_blank" >https://opg.optica.org/ome/fulltext.cfm?uri=ome-15-4-903</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1364/OME.550708" target="_blank" >10.1364/OME.550708</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Wide spectral range optical characterization of tantalum pentoxide (Ta2O5) films by the universal dispersion model

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This study presents a comprehensive optical characterization of tantalum pentoxide (Ta2O5) thin films across a wide spectral range, using a combination of ellipsometric and spectrophotometric data. The films prepared using e-beam evaporation, ranging in thickness from 20 to 250 nm, were analyzed using a complex structural model that integrates inhomogeneous layer profiles with three distinct phases, allowing for a more accurate representation of the material's optical properties. A universal dispersion model was employed to describe the optical constants, revealing the refractive index and extinction coefficient with exceptional precision. This work stands out due to the extensive spectral range covered-extending from the far infrared (400 mu m, 25 cm-1) to the vacuum ultraviolet (116 nm, 10.7 eV)-and the diverse array of instruments used, providing a level of detail and insight into Ta2O5's optical behavior that has not been achieved before. This novel approach offers significant advancements in understanding Ta2O5's optical characteristics, demonstrating its potential for advanced optical coatings and optoelectronic applications.

  • Název v anglickém jazyce

    Wide spectral range optical characterization of tantalum pentoxide (Ta2O5) films by the universal dispersion model

  • Popis výsledku anglicky

    This study presents a comprehensive optical characterization of tantalum pentoxide (Ta2O5) thin films across a wide spectral range, using a combination of ellipsometric and spectrophotometric data. The films prepared using e-beam evaporation, ranging in thickness from 20 to 250 nm, were analyzed using a complex structural model that integrates inhomogeneous layer profiles with three distinct phases, allowing for a more accurate representation of the material's optical properties. A universal dispersion model was employed to describe the optical constants, revealing the refractive index and extinction coefficient with exceptional precision. This work stands out due to the extensive spectral range covered-extending from the far infrared (400 mu m, 25 cm-1) to the vacuum ultraviolet (116 nm, 10.7 eV)-and the diverse array of instruments used, providing a level of detail and insight into Ta2O5's optical behavior that has not been achieved before. This novel approach offers significant advancements in understanding Ta2O5's optical characteristics, demonstrating its potential for advanced optical coatings and optoelectronic applications.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/EI22_002%2F0000677" target="_blank" >EI22_002/0000677: Pokročilá optika pro aplikace ultrakrátkých laserových pulzů ve vlnové oblasti DUV, VIS a NIR</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2025

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Optical Materials Express

  • ISSN

    2159-3930

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    15

  • Číslo periodika v rámci svazku

    4

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    17

  • Strana od-do

    903-919

  • Kód UT WoS článku

    001459720200003

  • EID výsledku v databázi Scopus