Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

X-ray imaging with sub-micron resolution using large-area photon counting detectors Timepix

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11310%2F17%3A10392367" target="_blank" >RIV/00216208:11310/17:10392367 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68407700:21460/17:00319855 RIV/68407700:21670/17:00319855

  • Výsledek na webu

    <a href="https://doi.org/10.1088/1748-0221/12/12/C12024" target="_blank" >https://doi.org/10.1088/1748-0221/12/12/C12024</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/12/12/C12024" target="_blank" >10.1088/1748-0221/12/12/C12024</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    X-ray imaging with sub-micron resolution using large-area photon counting detectors Timepix

  • Popis výsledku v původním jazyce

    As X-ray micro-CT became a popular tool for scientific purposes a number of commercially available CT systems have emerged on the market. Micro-CT systems have, therefore, become widely accessible and the number of research laboratories using them constantly increases. However, even when CT scans with spatial resolution of several micrometers can be performed routinely, data acquisition with sub- micron precision remains a complicated task. Issues come mostly from prolongation of the scan time inevitably connected with the use of nano-focus X-ray sources. Long exposure time increases the noise level in the CT projections. Furthermore, considering the sub- micron resolution even effects like source-spot drift, rotation stage wobble or thermal expansion become significant and can negatively affect the data. The use of dark-current free photon counting detectors as X-ray cameras for such applications can limit the issue of increased image noise in the data, however the mechanical stability of the whole system still remains a problem and has to be considered. In this work we evaluate the performance of a micro-CT system equipped with nano-focus X-ray tube and a large area photon counting detector Timepix for scans with effective pixel size bellow one micrometer.

  • Název v anglickém jazyce

    X-ray imaging with sub-micron resolution using large-area photon counting detectors Timepix

  • Popis výsledku anglicky

    As X-ray micro-CT became a popular tool for scientific purposes a number of commercially available CT systems have emerged on the market. Micro-CT systems have, therefore, become widely accessible and the number of research laboratories using them constantly increases. However, even when CT scans with spatial resolution of several micrometers can be performed routinely, data acquisition with sub- micron precision remains a complicated task. Issues come mostly from prolongation of the scan time inevitably connected with the use of nano-focus X-ray sources. Long exposure time increases the noise level in the CT projections. Furthermore, considering the sub- micron resolution even effects like source-spot drift, rotation stage wobble or thermal expansion become significant and can negatively affect the data. The use of dark-current free photon counting detectors as X-ray cameras for such applications can limit the issue of increased image noise in the data, however the mechanical stability of the whole system still remains a problem and has to be considered. In this work we evaluate the performance of a micro-CT system equipped with nano-focus X-ray tube and a large area photon counting detector Timepix for scans with effective pixel size bellow one micrometer.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10505 - Geology

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Instrumentation

  • ISSN

    1748-0221

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    12

  • Číslo periodika v rámci svazku

    December

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000417760800014

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85039783408