Charkterizace SiC/SiC kompozitu pomocí difrakce rtg. záření, AFM a pozitronovou anihilační spektroskopií
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F06%3A00005609" target="_blank" >RIV/00216208:11320/06:00005609 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies
Popis výsledku v původním jazyce
Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies
Název v anglickém jazyce
Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies
Popis výsledku anglicky
Characterization of a SiC/SiC composite by X-ray diffraction, atomic force microscopy and positron spectroscopies
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2006
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Surface Science
ISSN
0169-4332
e-ISSN
—
Svazek periodika
252
Číslo periodika v rámci svazku
9
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
10
Strana od-do
3342-3351
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—