Cerium oxide stoichiometry alteration via Sn deposition: Influence of temperature
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F09%3A00206584" target="_blank" >RIV/00216208:11320/09:00206584 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Cerium oxide stoichiometry alteration via Sn deposition: Influence of temperature
Popis výsledku v původním jazyce
Cerium oxide layers grown on Cu(111) were studied by conventional X-ray and resonant photoelectron spectroscopy with synchrotron radiation. A quantitative method of determining the cerium chemical state from the Ce 3d photoelectron spectra is described in detail. After the preparation of the ceria layer, Sn films of different thickness were evaporated onto the surface at temperatures of 120, 300 and 520 K. In all three cases, the deposited Sn was oxidized, CeO2 was partially reduced, and a mixed Sn-Ce-Ooxide was formed. The quantitative extent of these reactions was found to be determined by limited diffusion of the deposited Sn atoms into the ceria layer at low temperature. The excess of tin formed a metallic overlayer on the sample surface.
Název v anglickém jazyce
Cerium oxide stoichiometry alteration via Sn deposition: Influence of temperature
Popis výsledku anglicky
Cerium oxide layers grown on Cu(111) were studied by conventional X-ray and resonant photoelectron spectroscopy with synchrotron radiation. A quantitative method of determining the cerium chemical state from the Ce 3d photoelectron spectra is described in detail. After the preparation of the ceria layer, Sn films of different thickness were evaporated onto the surface at temperatures of 120, 300 and 520 K. In all three cases, the deposited Sn was oxidized, CeO2 was partially reduced, and a mixed Sn-Ce-Ooxide was formed. The quantitative extent of these reactions was found to be determined by limited diffusion of the deposited Sn atoms into the ceria layer at low temperature. The excess of tin formed a metallic overlayer on the sample surface.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LC06058" target="_blank" >LC06058: Centrum studia materiálů s využitím synchrotronového záření.</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
ISSN
0368-2048
e-ISSN
—
Svazek periodika
169
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000263571900003
EID výsledku v databázi Scopus
—