Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Hydrogen-induced defects in Pd films

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F09%3A10084075" target="_blank" >RIV/00216208:11320/09:10084075 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Hydrogen-induced defects in Pd films

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Hydrogen absorbed in crystalline solids causes a lattice expansion and the formation of hydride phases. Contrary to free standing bulk samples, thin films are fixed at substrates, which prevent their in-plane expansion. This makes hydrogen- induced expansion of thin films highly anisotropic and leads to the formation of high stresses in hydrogen loaded thin films. As a consequence, lattice defects may be created in thin films loaded with hydrogen. This work reports about defects created by hydrogen loading in epitaxial Pd films deposited on Al2O3 substrates by cold cathode beam sputtering. Hydrogen-induced defects are characterized by positron annihilation spectroscopy performed with variable energy slow positron beams.

  • Název v anglickém jazyce

    Hydrogen-induced defects in Pd films

  • Popis výsledku anglicky

    Hydrogen absorbed in crystalline solids causes a lattice expansion and the formation of hydride phases. Contrary to free standing bulk samples, thin films are fixed at substrates, which prevent their in-plane expansion. This makes hydrogen- induced expansion of thin films highly anisotropic and leads to the formation of high stresses in hydrogen loaded thin films. As a consequence, lattice defects may be created in thin films loaded with hydrogen. This work reports about defects created by hydrogen loading in epitaxial Pd films deposited on Al2O3 substrates by cold cathode beam sputtering. Hydrogen-induced defects are characterized by positron annihilation spectroscopy performed with variable energy slow positron beams.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Physica Status Solidi. C. Solid State Physics

  • ISSN

    1610-1634

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    6

  • Číslo periodika v rámci svazku

    11

  • Stát vydavatele periodika

    DE - Spolková republika Německo

  • Počet stran výsledku

    3

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000279544900030

  • EID výsledku v databázi Scopus