Electric field distributions in CdZnTe due to reduced temperature and x-ray irradiation
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F10%3A10057807" target="_blank" >RIV/00216208:11320/10:10057807 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Electric field distributions in CdZnTe due to reduced temperature and x-ray irradiation
Popis výsledku v původním jazyce
Real-time Pockels imaging is performed on semi-insulating CdZnTe to measure the electric field profile in the material bulk. In steady-state room temperature conditions the measured electric field profile is uniform, consistent with a low space charge concentration. At temperatures 270 K a significant nonuniform electric field profile is observed, which we explain in terms of temperature-induced band bending at the metal-semiconductor interface, causing the formation of positive space charge in the bulk. Similar electric field distortion effects are observed when room temperature CdZnTe is irradiated by x-rays, causing a high rate of photoinduced charge injection.
Název v anglickém jazyce
Electric field distributions in CdZnTe due to reduced temperature and x-ray irradiation
Popis výsledku anglicky
Real-time Pockels imaging is performed on semi-insulating CdZnTe to measure the electric field profile in the material bulk. In steady-state room temperature conditions the measured electric field profile is uniform, consistent with a low space charge concentration. At temperatures 270 K a significant nonuniform electric field profile is observed, which we explain in terms of temperature-induced band bending at the metal-semiconductor interface, causing the formation of positive space charge in the bulk. Similar electric field distortion effects are observed when room temperature CdZnTe is irradiated by x-rays, causing a high rate of photoinduced charge injection.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Physics Letters
ISSN
0003-6951
e-ISSN
—
Svazek periodika
2010
Číslo periodika v rámci svazku
13
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
3
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000276275300077
EID výsledku v databázi Scopus
—