Selective coherent x-ray diffractive imaging of displacement fields in (Ga,Mn)As/GaAs periodic wires
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F11%3A10103782" target="_blank" >RIV/00216208:11320/11:10103782 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68378271:_____/11:00385596
Výsledek na webu
<a href="http://prb.aps.org/abstract/PRB/v84/i5/e054113" target="_blank" >http://prb.aps.org/abstract/PRB/v84/i5/e054113</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.84.054113" target="_blank" >10.1103/PhysRevB.84.054113</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Selective coherent x-ray diffractive imaging of displacement fields in (Ga,Mn)As/GaAs periodic wires
Popis výsledku v původním jazyce
Coherent x-ray diffractive imaging is extended to high resolution strain analysis in crystalline nanostructured devices. The method now enables reconstruction of elastic strain distribution in layered nanowires or dots. The application potential is demonstrated by determining the strain distribution in (Ga,Mn)As/GaAs nanowires. By separating diffraction signals in reciprocal spaces, individual parts of the device could be reconstructed independently by our inversion procedure. We demonstrate the methodto be effective for material specific reconstruction of strain distribution in highly integrated devices.
Název v anglickém jazyce
Selective coherent x-ray diffractive imaging of displacement fields in (Ga,Mn)As/GaAs periodic wires
Popis výsledku anglicky
Coherent x-ray diffractive imaging is extended to high resolution strain analysis in crystalline nanostructured devices. The method now enables reconstruction of elastic strain distribution in layered nanowires or dots. The application potential is demonstrated by determining the strain distribution in (Ga,Mn)As/GaAs nanowires. By separating diffraction signals in reciprocal spaces, individual parts of the device could be reconstructed independently by our inversion procedure. We demonstrate the methodto be effective for material specific reconstruction of strain distribution in highly integrated devices.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
ISSN
1098-0121
e-ISSN
—
Svazek periodika
84
Číslo periodika v rámci svazku
5
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
054113, 1-7
Kód UT WoS článku
000293829200006
EID výsledku v databázi Scopus
—