Exciton diffusion length and concentration of holes in MEH-PPV polymer using the surface voltage and surface photovoltage methods

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F12%3A10126233" target="_blank" >RIV/00216208:11320/12:10126233 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68378271:_____/12:00390810 RIV/70883521:28110/12:43868136 RIV/70883521:28610/12:43868136

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.cplett.2012.09.052" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.cplett.2012.09.052</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.cplett.2012.09.052" target="_blank" >10.1016/j.cplett.2012.09.052</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Exciton diffusion length and concentration of holes in MEH-PPV polymer using the surface voltage and surface photovoltage methods

Popis výsledku v původním jazyce

Novelized method of the surface photovoltage (SPV) measurement convenient for evaluation of exciton diffusion length and thickness of the space charge region (SCR) in organic semiconductors is applied to poly[2-methoxy-5-(2'-ethyl-hexyloxy)-p-phenylene vinylene] (MEH-PPV) polymer. Exciton diffusion length and thickness of the SCR was found. The experiment is complemented by measurements of surface potential by the Kelvin probe force microscopy yielding the work function and concentration of free holes.The latter value is much lower than the concentration of ionized states determined from the thickness of the space charge region, which can be ascribed to the presence of traps.

Název v anglickém jazyce

Exciton diffusion length and concentration of holes in MEH-PPV polymer using the surface voltage and surface photovoltage methods

Popis výsledku anglicky

Novelized method of the surface photovoltage (SPV) measurement convenient for evaluation of exciton diffusion length and thickness of the space charge region (SCR) in organic semiconductors is applied to poly[2-methoxy-5-(2'-ethyl-hexyloxy)-p-phenylene vinylene] (MEH-PPV) polymer. Exciton diffusion length and thickness of the SCR was found. The experiment is complemented by measurements of surface potential by the Kelvin probe force microscopy yielding the work function and concentration of free holes.The latter value is much lower than the concentration of ionized states determined from the thickness of the space charge region, which can be ascribed to the presence of traps.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GBP108%2F12%2FG108" target="_blank" >GBP108/12/G108: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů zářením</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Chemical Physics Letters

ISSN

0009-2614

e-ISSN

—

Svazek periodika

552

Číslo periodika v rámci svazku

november

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

49-52

Kód UT WoS článku

000310567800008

EID výsledku v databázi Scopus

—