Advanced testing of the DEPFET minimatrix particle detector

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F12%3A10127421" target="_blank" >RIV/00216208:11320/12:10127421 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68407700:21230/12:00187374

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/7/01/C01101" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/7/01/C01101</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1748-0221/7/01/C01101" target="_blank" >10.1088/1748-0221/7/01/C01101</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Advanced testing of the DEPFET minimatrix particle detector

Popis výsledku v původním jazyce

The DEPFET (DEPleted Field Effect Transistor) is an active pixel particle detector with a MOSFET (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor) integrated in each pixel, providing first amplification stage of readout electronics. Excellent signal over noise performance is gained this way. The DEPFET sensor will be used as a vertex detector in the Belle II experiment at SuperKEKB, electron-positron collider in Japan. The vertex detector will be composed of two layers of pixel detectors (DEPFET) andfour layers of strip detectors. The DEPFET sensor requires switching and current readout circuits for its operation. These circuits have been designed as ASICs (Application Specific Integrated Circuits) in several different versions, but they provide insufficient flexibility for precise detector testing. Therefore, a test system with a flexible control cycle range and minimal noise has been designed for testing and characterizing of small detector prototypes (Minimatrices). Sensors with

Název v anglickém jazyce

Advanced testing of the DEPFET minimatrix particle detector

Popis výsledku anglicky

The DEPFET (DEPleted Field Effect Transistor) is an active pixel particle detector with a MOSFET (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor) integrated in each pixel, providing first amplification stage of readout electronics. Excellent signal over noise performance is gained this way. The DEPFET sensor will be used as a vertex detector in the Belle II experiment at SuperKEKB, electron-positron collider in Japan. The vertex detector will be composed of two layers of pixel detectors (DEPFET) andfour layers of strip detectors. The DEPFET sensor requires switching and current readout circuits for its operation. These circuits have been designed as ASICs (Application Specific Integrated Circuits) in several different versions, but they provide insufficient flexibility for precise detector testing. Therefore, a test system with a flexible control cycle range and minimal noise has been designed for testing and characterizing of small detector prototypes (Minimatrices). Sensors with

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Instrumentation

ISSN

1748-0221

e-ISSN

—

Svazek periodika

7

Číslo periodika v rámci svazku

January

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000303806200101

EID výsledku v databázi Scopus

—