First Measurement on the DEPFET Mini-Matrix Particle Detector System
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F10%3A00171058" target="_blank" >RIV/68407700:21230/10:00171058 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
First Measurement on the DEPFET Mini-Matrix Particle Detector System
Popis výsledku v původním jazyce
The DEPFET is a new type of active pixel particle detector. A MOSFET is integrated in each pixel providing the first amplification stage of the readout electronics. Excellent noise parameters are obtained with this layout. The DEPFET sensor will be integrated as an inner detector in the BELLE II experiment. Aflexible measuring system with a wide control cycle range and minimal noise was designed for testing small detector prototypes. Noise of 19 electrons of the equivalent input charge was achieved during the first measurements on the system.
Název v anglickém jazyce
First Measurement on the DEPFET Mini-Matrix Particle Detector System
Popis výsledku anglicky
The DEPFET is a new type of active pixel particle detector. A MOSFET is integrated in each pixel providing the first amplification stage of the readout electronics. Excellent noise parameters are obtained with this layout. The DEPFET sensor will be integrated as an inner detector in the BELLE II experiment. Aflexible measuring system with a wide control cycle range and minimal noise was designed for testing small detector prototypes. Noise of 19 electrons of the equivalent input charge was achieved during the first measurements on the system.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Conference Proceedings of the Eighth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems
ISBN
978-1-4244-8572-7
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Bratislava
Místo konání akce
Smolenice
Datum konání akce
24. 10. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—