Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Evaluation of the mobility-lifetime product in CdTe and CdZnTe detectors by the transient-current technique

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F13%3A10190127" target="_blank" >RIV/00216208:11320/13:10190127 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4819891" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4819891</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4819891" target="_blank" >10.1063/1.4819891</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Evaluation of the mobility-lifetime product in CdTe and CdZnTe detectors by the transient-current technique

  • Popis výsledku v původním jazyce

    New methods for evaluation of mobility-lifetime product (mu-tau) in polarized planar CdTe and CdZnTe detectors are presented. We combined the transient-current technique measurements with the measurements of the charge-collection efficiency and developedtwo iterative procedures for calculating mu-tau and mobility both taking into account the actual profile of the electric field in a detector. Their applicability is demonstrated on both the simulated and existing experimental data. The cases in which these methods are preferred to the common procedures based on the Hecht equation are widely discussed. We demonstrate that neglecting the detector's polarization can lead to underestimation of real mu-tau, thus negatively affecting the interpretation of particular measurements.

  • Název v anglickém jazyce

    Evaluation of the mobility-lifetime product in CdTe and CdZnTe detectors by the transient-current technique

  • Popis výsledku anglicky

    New methods for evaluation of mobility-lifetime product (mu-tau) in polarized planar CdTe and CdZnTe detectors are presented. We combined the transient-current technique measurements with the measurements of the charge-collection efficiency and developedtwo iterative procedures for calculating mu-tau and mobility both taking into account the actual profile of the electric field in a detector. Their applicability is demonstrated on both the simulated and existing experimental data. The cases in which these methods are preferred to the common procedures based on the Hecht equation are widely discussed. We demonstrate that neglecting the detector's polarization can lead to underestimation of real mu-tau, thus negatively affecting the interpretation of particular measurements.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Applied Physics

  • ISSN

    0021-8979

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    114

  • Číslo periodika v rámci svazku

    9

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000324386900075

  • EID výsledku v databázi Scopus