Evaluation of the mobility-lifetime product in CdTe and CdZnTe detectors by the transient-current technique
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F13%3A10190127" target="_blank" >RIV/00216208:11320/13:10190127 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4819891" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4819891</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4819891" target="_blank" >10.1063/1.4819891</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Evaluation of the mobility-lifetime product in CdTe and CdZnTe detectors by the transient-current technique
Popis výsledku v původním jazyce
New methods for evaluation of mobility-lifetime product (mu-tau) in polarized planar CdTe and CdZnTe detectors are presented. We combined the transient-current technique measurements with the measurements of the charge-collection efficiency and developedtwo iterative procedures for calculating mu-tau and mobility both taking into account the actual profile of the electric field in a detector. Their applicability is demonstrated on both the simulated and existing experimental data. The cases in which these methods are preferred to the common procedures based on the Hecht equation are widely discussed. We demonstrate that neglecting the detector's polarization can lead to underestimation of real mu-tau, thus negatively affecting the interpretation of particular measurements.
Název v anglickém jazyce
Evaluation of the mobility-lifetime product in CdTe and CdZnTe detectors by the transient-current technique
Popis výsledku anglicky
New methods for evaluation of mobility-lifetime product (mu-tau) in polarized planar CdTe and CdZnTe detectors are presented. We combined the transient-current technique measurements with the measurements of the charge-collection efficiency and developedtwo iterative procedures for calculating mu-tau and mobility both taking into account the actual profile of the electric field in a detector. Their applicability is demonstrated on both the simulated and existing experimental data. The cases in which these methods are preferred to the common procedures based on the Hecht equation are widely discussed. We demonstrate that neglecting the detector's polarization can lead to underestimation of real mu-tau, thus negatively affecting the interpretation of particular measurements.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Applied Physics
ISSN
0021-8979
e-ISSN
—
Svazek periodika
114
Číslo periodika v rámci svazku
9
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
9
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000324386900075
EID výsledku v databázi Scopus
—