Investigation of the near-surface structures of polar InN films by chemical-state-discriminated hard X-ray photoelectron diffraction
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F13%3A10192088" target="_blank" >RIV/00216208:11320/13:10192088 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4789373" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4789373</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4789373" target="_blank" >10.1063/1.4789373</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Investigation of the near-surface structures of polar InN films by chemical-state-discriminated hard X-ray photoelectron diffraction
Popis výsledku v původním jazyce
Near-surface structures of polar InN films were investigated by laboratory-based hard X-ray photoelectron diffraction (HXPD) with chemical-state-discrimination. HXPD patterns from In 3d(5/2) and N 1s core levels of the In-polar and N-polar InN films weredifferent from each other and compared with the simulation results using a multiple-scattering cluster model. It was found that the near-surface structure of the In-polar InN film was close to the ideal wurtzite structure. On the other hand, on the N-polar InN film, defects-rich surface was formed. In addition, the existence of the In-polar domains was observed in the HXPD patterns. (C) 2013 American Institute of Physics. [http://dx.doi.org/10.1063/1.4789373]
Název v anglickém jazyce
Investigation of the near-surface structures of polar InN films by chemical-state-discriminated hard X-ray photoelectron diffraction
Popis výsledku anglicky
Near-surface structures of polar InN films were investigated by laboratory-based hard X-ray photoelectron diffraction (HXPD) with chemical-state-discrimination. HXPD patterns from In 3d(5/2) and N 1s core levels of the In-polar and N-polar InN films weredifferent from each other and compared with the simulation results using a multiple-scattering cluster model. It was found that the near-surface structure of the In-polar InN film was close to the ideal wurtzite structure. On the other hand, on the N-polar InN film, defects-rich surface was formed. In addition, the existence of the In-polar domains was observed in the HXPD patterns. (C) 2013 American Institute of Physics. [http://dx.doi.org/10.1063/1.4789373]
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Physics Letters
ISSN
0003-6951
e-ISSN
—
Svazek periodika
102
Číslo periodika v rámci svazku
3
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000314032600042
EID výsledku v databázi Scopus
—