Preparation of Magnetron Sputtered Thin Cerium Oxide Films with a Large Surface on Silicon Substrates Using Carbonaceous Interlayers
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F14%3A10288012" target="_blank" >RIV/00216208:11320/14:10288012 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1021/am4049546" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1021/am4049546</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1021/am4049546" target="_blank" >10.1021/am4049546</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Preparation of Magnetron Sputtered Thin Cerium Oxide Films with a Large Surface on Silicon Substrates Using Carbonaceous Interlayers
Popis výsledku v původním jazyce
The study focuses on preparation of thin cerium oxide films with a porous structure prepared by rf magnetron sputtering on a silicon wafer substrate using amorphous carbon (a-C) and nitrogenated amorphous carbon films (CNx) as an interlayer. We show thatthe structure and morphology of the deposited layers depend on the oxygen concentration in working gas used for cerium oxide deposition. Considerable erosion of the carbonaceous interlayer accompanied by the formation of highly porous carbon/cerium oxide bilayer systems is reported. Etching of the carbon interlayer with oxygen species occurring simultaneously with cerium oxide film growth is considered to be the driving force for this effect resulting in the formation of nanostructured cerium oxide films with large surface. In this regard, results of oxygen plasma treatment of a-C and CNx, films are presented. Gradual material erosion with increasing duration of plasma impact accompanied by modification of the surface roughness is repo
Název v anglickém jazyce
Preparation of Magnetron Sputtered Thin Cerium Oxide Films with a Large Surface on Silicon Substrates Using Carbonaceous Interlayers
Popis výsledku anglicky
The study focuses on preparation of thin cerium oxide films with a porous structure prepared by rf magnetron sputtering on a silicon wafer substrate using amorphous carbon (a-C) and nitrogenated amorphous carbon films (CNx) as an interlayer. We show thatthe structure and morphology of the deposited layers depend on the oxygen concentration in working gas used for cerium oxide deposition. Considerable erosion of the carbonaceous interlayer accompanied by the formation of highly porous carbon/cerium oxide bilayer systems is reported. Etching of the carbon interlayer with oxygen species occurring simultaneously with cerium oxide film growth is considered to be the driving force for this effect resulting in the formation of nanostructured cerium oxide films with large surface. In this regard, results of oxygen plasma treatment of a-C and CNx, films are presented. Gradual material erosion with increasing duration of plasma impact accompanied by modification of the surface roughness is repo
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA13-10396S" target="_blank" >GA13-10396S: Nové materiály pro planární palivové články</a><br>
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
ACS applied materials & interfaces
ISSN
1944-8244
e-ISSN
—
Svazek periodika
6
Číslo periodika v rámci svazku
2
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
1213-1218
Kód UT WoS článku
000330201900065
EID výsledku v databázi Scopus
—