Refining bimodal microstructure of materials with MSTRUCT
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F14%3A10288201" target="_blank" >RIV/00216208:11320/14:10288201 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/67985858:_____/14:00438129 RIV/61989100:27710/15:86091125
Výsledek na webu
<a href="http://journals.cambridge.org/action/displayAbstract?fromPage=online&aid=9477340&fileId=S0885715614000852" target="_blank" >http://journals.cambridge.org/action/displayAbstract?fromPage=online&aid=9477340&fileId=S0885715614000852</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S0885715614000852" target="_blank" >10.1017/S0885715614000852</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Refining bimodal microstructure of materials with MSTRUCT
Popis výsledku v původním jazyce
The possibilities of modelling the diffraction profiles from bimodal microstructure in computer program MSTRUCT are demonstrated on two examples. A special "Double Component" profile effect can be utilized for such problems. At first it was applied to ananalysis of a mixture of two nanocrystalline anatase powders with different crystallite sizes and the relative ratio of both components was determined from X-ray diffraction data. In the second case study, diffraction peaks from a pure polycrystalline copper sample treated by equal channel angular pressing were fitted using a two-phase model of large recrystallized defect-free grains and ultrafine crystallites with high dislocation density. The method is shown to be suitable for determination of the relative fraction of the microstructural components as well as other parameters (e.g. dislocation density)
Název v anglickém jazyce
Refining bimodal microstructure of materials with MSTRUCT
Popis výsledku anglicky
The possibilities of modelling the diffraction profiles from bimodal microstructure in computer program MSTRUCT are demonstrated on two examples. A special "Double Component" profile effect can be utilized for such problems. At first it was applied to ananalysis of a mixture of two nanocrystalline anatase powders with different crystallite sizes and the relative ratio of both components was determined from X-ray diffraction data. In the second case study, diffraction peaks from a pure polycrystalline copper sample treated by equal channel angular pressing were fitted using a two-phase model of large recrystallized defect-free grains and ultrafine crystallites with high dislocation density. The method is shown to be suitable for determination of the relative fraction of the microstructural components as well as other parameters (e.g. dislocation density)
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA14-23274S" target="_blank" >GA14-23274S: Nekonvenční příprava nanostrukturovaných oxidů kovů pomocí přetlakových a superkritických tekutin</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Powder Diffraction
ISSN
0885-7156
e-ISSN
—
Svazek periodika
29
Číslo periodika v rámci svazku
S2
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
35-41
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—