Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

In-plane tunnelling field-effect transistor integrated on Silicon

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F15%3A10306808" target="_blank" >RIV/00216208:11320/15:10306808 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68378271:_____/15:00451373

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1038/srep14367" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1038/srep14367</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1038/srep14367" target="_blank" >10.1038/srep14367</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    In-plane tunnelling field-effect transistor integrated on Silicon

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Silicon has persevered as the primary substrate of microelectronics during last decades. During last years, it has been gradually embracing the integration of ferroelectricity and ferromagnetism. The successful incorporation of these two functionalitiesto silicon has delivered the desired non-volatility via charge-effects and giant magneto-resistance. On the other hand, there has been a numerous demonstrations of the so-called magnetoelectric effect (coupling between ferroelectric and ferromagnetic order) using nearly-perfect heterostructures. However, the scrutiny of the ingredients that lead to magnetoelectric coupling, namely magnetic moment and a conducting channel, does not necessarily require structural perfection. In this work, we circumvent the stringent requirements for epilayers while preserving the magnetoelectric functionality in a silicon-integrated device. Additionally, we have identified an in-plane tunnelling mechanism which responds to a vertical electric field. This

  • Název v anglickém jazyce

    In-plane tunnelling field-effect transistor integrated on Silicon

  • Popis výsledku anglicky

    Silicon has persevered as the primary substrate of microelectronics during last decades. During last years, it has been gradually embracing the integration of ferroelectricity and ferromagnetism. The successful incorporation of these two functionalitiesto silicon has delivered the desired non-volatility via charge-effects and giant magneto-resistance. On the other hand, there has been a numerous demonstrations of the so-called magnetoelectric effect (coupling between ferroelectric and ferromagnetic order) using nearly-perfect heterostructures. However, the scrutiny of the ingredients that lead to magnetoelectric coupling, namely magnetic moment and a conducting channel, does not necessarily require structural perfection. In this work, we circumvent the stringent requirements for epilayers while preserving the magnetoelectric functionality in a silicon-integrated device. Additionally, we have identified an in-plane tunnelling mechanism which responds to a vertical electric field. This

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Scientific Reports

  • ISSN

    2045-2322

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    5

  • Číslo periodika v rámci svazku

    September

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000361770900001

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84942746569