Local surface structure and structural properties of As-Se nanolayers studied by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy and DFT calculations
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F15%3A10319375" target="_blank" >RIV/00216208:11320/15:10319375 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2014.12.013" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2014.12.013</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2014.12.013" target="_blank" >10.1016/j.jnoncrysol.2014.12.013</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Local surface structure and structural properties of As-Se nanolayers studied by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy and DFT calculations
Popis výsledku v původním jazyce
The surfaces of As20Se80, As40Se60 and As50Se50 films were studied using synchrotron radiation photoelectron spectroscopy and DFT electronic structure calculations. The composition and local structure of the surfaces were determined by curve fitting of the experimental As 3d and Se 3d core levels, and studies show significant Se-enrichment in the top surface layers of the films. The valence band spectra have been interpreted within a model of discrete structural units, giving rise to distinct peaks in the spectra. The interconnection between the surface composition, local structure formation and the features of the valence band spectra of As20Se80, As40Se60 and As50Se50 films is analyzed and discussed in detail.
Název v anglickém jazyce
Local surface structure and structural properties of As-Se nanolayers studied by synchrotron radiation photoelectron spectroscopy and DFT calculations
Popis výsledku anglicky
The surfaces of As20Se80, As40Se60 and As50Se50 films were studied using synchrotron radiation photoelectron spectroscopy and DFT electronic structure calculations. The composition and local structure of the surfaces were determined by curve fitting of the experimental As 3d and Se 3d core levels, and studies show significant Se-enrichment in the top surface layers of the films. The valence band spectra have been interpreted within a model of discrete structural units, giving rise to distinct peaks in the spectra. The interconnection between the surface composition, local structure formation and the features of the valence band spectra of As20Se80, As40Se60 and As50Se50 films is analyzed and discussed in detail.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LG12003" target="_blank" >LG12003: Optická dráha materiálového výzkumu na synchrotronu Elettra v Terstu</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Non-Crystalline Solids
ISSN
0022-3093
e-ISSN
—
Svazek periodika
410
Číslo periodika v rámci svazku
15 Feb
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
180-185
Kód UT WoS článku
000349726900027
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84921326323