Structural and chemical characterization of cerium oxide thin layers grown on silicon substrate

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F15%3A10319547" target="_blank" >RIV/00216208:11320/15:10319547 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.matpr.2015.04.014" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.matpr.2015.04.014</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.matpr.2015.04.014" target="_blank" >10.1016/j.matpr.2015.04.014</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Structural and chemical characterization of cerium oxide thin layers grown on silicon substrate

Popis výsledku v původním jazyce

In this study, we report transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy study of cerium oxide thin layers deposited on silicon substrate. Transmission electron microscopy experiments have revealed the flat morphology of the deposited layers. In addition, studies of high resolution images have indicated the presence of mainly ceria crystallized nanoparticles. Energy electron loss spectroscopy measurements were also performed in scanning mode to study the evolution of the cerium valence. In addition to Ce4+ inside the layer, the presence of amorphous cerium silicate with valence +3 is pointed out at the vicinity of the substrate. (C) 2015 Published by Elsevier Ltd. Selection and peer-review under responsibility of TEMA - Centre for Mechanical Technology and Automation.

Název v anglickém jazyce

Structural and chemical characterization of cerium oxide thin layers grown on silicon substrate

Popis výsledku anglicky

In this study, we report transmission electron microscopy and electron energy loss spectroscopy study of cerium oxide thin layers deposited on silicon substrate. Transmission electron microscopy experiments have revealed the flat morphology of the deposited layers. In addition, studies of high resolution images have indicated the presence of mainly ceria crystallized nanoparticles. Energy electron loss spectroscopy measurements were also performed in scanning mode to study the evolution of the cerium valence. In addition to Ce4+ inside the layer, the presence of amorphous cerium silicate with valence +3 is pointed out at the vicinity of the substrate. (C) 2015 Published by Elsevier Ltd. Selection and peer-review under responsibility of TEMA - Centre for Mechanical Technology and Automation.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA13-10396S" target="_blank" >GA13-10396S: Nové materiály pro planární palivové články</a><br>

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

MATERIALS TODAY-PROCEEDINGS

ISBN

—

ISSN

2214-7853

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

101-107

Název nakladatele

ELSEVIER SCIENCE BV

Místo vydání

AMSTERDAM

Místo konání akce

Aveiro

Datum konání akce

2. 7. 2014

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000358001500015