Investigation of the effect of argon ion beam on CdZnTe single crystals surface structural properties
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F16%3A10330477" target="_blank" >RIV/00216208:11320/16:10330477 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216305:26220/16:PU119041
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.surfcoat.2016.05.006" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.surfcoat.2016.05.006</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.surfcoat.2016.05.006" target="_blank" >10.1016/j.surfcoat.2016.05.006</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Investigation of the effect of argon ion beam on CdZnTe single crystals surface structural properties
Popis výsledku v původním jazyce
Scanning Electron microscopy and Atomic Force Microscopy and X-ray photoemission spectroscopy were used to investigate the effect of argon ion bombardment on the surface of CdZnTe crystal structural morphology. The sample was irradiated by defined doses of 5 keV argon ions. We observed sudden increase of the surface roughness at low doses. After irradiation by higher doses up to 1.4 x 10(16) ions/cm(2), the surface showed smoothening. This value proved to be optimal for oxidized damaged layer removal and surface smoothening. AFM analysis confirmed lowest roughness of the surface. Higher values of ion fluences caused increasing roughness and waviness of the surface and creation of craters on the surface. The XPS analysis showed no preferential removal of Cd, Zn or Te by used ion irradiation doses. The sputter rate stabilized from ion fluences higher than 7 x 10(15) Ar+ ions/cm(2). The possible origin of this craters and their cross-like alignment is explained.
Název v anglickém jazyce
Investigation of the effect of argon ion beam on CdZnTe single crystals surface structural properties
Popis výsledku anglicky
Scanning Electron microscopy and Atomic Force Microscopy and X-ray photoemission spectroscopy were used to investigate the effect of argon ion bombardment on the surface of CdZnTe crystal structural morphology. The sample was irradiated by defined doses of 5 keV argon ions. We observed sudden increase of the surface roughness at low doses. After irradiation by higher doses up to 1.4 x 10(16) ions/cm(2), the surface showed smoothening. This value proved to be optimal for oxidized damaged layer removal and surface smoothening. AFM analysis confirmed lowest roughness of the surface. Higher values of ion fluences caused increasing roughness and waviness of the surface and creation of craters on the surface. The XPS analysis showed no preferential removal of Cd, Zn or Te by used ion irradiation doses. The sputter rate stabilized from ion fluences higher than 7 x 10(15) Ar+ ions/cm(2). The possible origin of this craters and their cross-like alignment is explained.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Surface and Coatings Technology
ISSN
0257-8972
e-ISSN
—
Svazek periodika
306
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
CH - Švýcarská konfederace
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
75-81
Kód UT WoS článku
000387526200016
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84969916217