Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Sputtering of Spherical SiO2 Samples

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F16%3A10334208" target="_blank" >RIV/00216208:11320/16:10334208 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/TPS.2016.2564502" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/TPS.2016.2564502</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/TPS.2016.2564502" target="_blank" >10.1109/TPS.2016.2564502</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Sputtering of Spherical SiO2 Samples

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Dust grains in the interplanetary environment can be basically found in two locations floating in the free space or attached to a surface of asteroids, comets, or moons. They are sputtered by the impacts of energetic ions, and this process supplies the interplanetary space with heavy elements. The sputtering yield is generally estimated on the basis of laboratory investigations of planar samples. We use silica micrometer sized spherical grains as a prototype of a space-borne dust, bombard them by 2-keV Ar ions, and monitor the influences of simultaneous application of the electron beam as well as the electric field at the dust surface on the sputtering yield. We found that the increase in the sputtering yield due to the electron impact is much larger than expected and it can enhance the sputtering yield by a factor of 1.6 in a comparison with the sole ion bombardment. On the other hand, the influence of the electric field is not so strong (if any) and it is masked by electron impacts in our experiment. Sputtering of the grains fixed at a surface by 30-keV Ga ions revealed that the angular profile of the yield is flatter than that frequently used for a description of the sputtering process. Finally, we compare these results with the published sputtering yield values.

  • Název v anglickém jazyce

    Sputtering of Spherical SiO2 Samples

  • Popis výsledku anglicky

    Dust grains in the interplanetary environment can be basically found in two locations floating in the free space or attached to a surface of asteroids, comets, or moons. They are sputtered by the impacts of energetic ions, and this process supplies the interplanetary space with heavy elements. The sputtering yield is generally estimated on the basis of laboratory investigations of planar samples. We use silica micrometer sized spherical grains as a prototype of a space-borne dust, bombard them by 2-keV Ar ions, and monitor the influences of simultaneous application of the electron beam as well as the electric field at the dust surface on the sputtering yield. We found that the increase in the sputtering yield due to the electron impact is much larger than expected and it can enhance the sputtering yield by a factor of 1.6 in a comparison with the sole ion bombardment. On the other hand, the influence of the electric field is not so strong (if any) and it is masked by electron impacts in our experiment. Sputtering of the grains fixed at a surface by 30-keV Ga ions revealed that the angular profile of the yield is flatter than that frequently used for a description of the sputtering process. Finally, we compare these results with the published sputtering yield values.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    IEEE Transactions on Plasma Science

  • ISSN

    0093-3813

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    44

  • Číslo periodika v rámci svazku

    6

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

    1036-1044

  • Kód UT WoS článku

    000377896800021

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84976329001