Pathways of carrier recombination in Si/SiO2 nanocrystal superlattices
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F19%3A10403021" target="_blank" >RIV/00216208:11320/19:10403021 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://verso.is.cuni.cz/pub/verso.fpl?fname=obd_publikace_handle&handle=fpeRNj0ZX3" target="_blank" >https://verso.is.cuni.cz/pub/verso.fpl?fname=obd_publikace_handle&handle=fpeRNj0ZX3</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.5116778" target="_blank" >10.1063/1.5116778</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Pathways of carrier recombination in Si/SiO2 nanocrystal superlattices
Popis výsledku v původním jazyce
We investigated picosecond carrier recombination in Si/SiO2 nanocrystal superlattices by ultrafast transient transmission, time-resolved photoluminescence, and Raman spectroscopy. The recombination is of multicarrier origin and it depends strongly on the nanoscale structure of the samples (e.g., crystallinity, percolation, and size distribution). Several recombination pathways were found, including Auger recombination, trapped-carrier Auger recombination, exciton-exciton recombination, and subsequent trapping in band tail states of amorphous silicon phase. The sample microscopic structure is determined using a single parameter, the stoichiometric parameter x, during the plasma-enhanced chemical-vapor deposition process. The percolated samples are hot candidates for all-silicon tandem photovoltaic solar cells in the future. Published under license by AIP Publishing.
Název v anglickém jazyce
Pathways of carrier recombination in Si/SiO2 nanocrystal superlattices
Popis výsledku anglicky
We investigated picosecond carrier recombination in Si/SiO2 nanocrystal superlattices by ultrafast transient transmission, time-resolved photoluminescence, and Raman spectroscopy. The recombination is of multicarrier origin and it depends strongly on the nanoscale structure of the samples (e.g., crystallinity, percolation, and size distribution). Several recombination pathways were found, including Auger recombination, trapped-carrier Auger recombination, exciton-exciton recombination, and subsequent trapping in band tail states of amorphous silicon phase. The sample microscopic structure is determined using a single parameter, the stoichiometric parameter x, during the plasma-enhanced chemical-vapor deposition process. The percolated samples are hot candidates for all-silicon tandem photovoltaic solar cells in the future. Published under license by AIP Publishing.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2019
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Applied Physics
ISSN
0021-8979
e-ISSN
—
Svazek periodika
126
Číslo periodika v rámci svazku
16
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
9
Strana od-do
163101
Kód UT WoS článku
000504001300001
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85074225206