Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Charakterizace mikrokrystalického křemíku metodami CPM a SPV

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F99%3A11110020" target="_blank" >RIV/00216208:11320/99:11110020 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Charakterizace mikrokrystalického křemíku metodami CPM a SPV

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Vývoj amorfní fáze (inkubacní vrstva) v tenkých vrstvách mikrokrystalického kremíku je v závislosti na tlouštce vrstvy studován metodou konstantního fotoproudu (CPM), merením temné vodivosti a pro urcení difuzní délky též metodou povrchového fotovoltaického jevu (SPV) a metodou stacionární mrížky fotonosicu. Výsledky podporují hypotézu anizotropie rustu zrn. Je predložen model, který pomáhá lépe pochopit deje spojené s fotogenerací, transportem a rekombinací nosicu náboje.

  • Název v anglickém jazyce

    Microcrystalline Silicon Characterization by the CPM and SPV Methods

  • Popis výsledku anglicky

    The development of the amorphous phase (the incubation layer) in the films of microcrystalline silicon is studied in dependence on the film thickness by the constant photocurrent method (CPM), dark conductivity measurement and for the diffusion length determination also by surface photovoltaic effect (SPV) method and by the stationary photocarrier lattice method. A model for the SPV method is presented that helps to understand better the processes connected with photogeneration, transport and recombination of charge carriers.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    1999

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Ferroelectrics

  • ISSN

    0015-0193

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    122

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus