Complete Optical Analysis of Amorphous As-S Chalcogenide Thin Films by the Combined Spectrophotometric Method

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F01%3A00005240" target="_blank" >RIV/00216224:14310/01:00005240 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216275:25310/01:00000025

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Complete Optical Analysis of Amorphous As-S Chalcogenide Thin Films by the Combined Spectrophotometric Method

Popis výsledku v původním jazyce

In this paper a combined spectrophotometric method is used to analyzed As-S chalcogenide thin films. This method is based on the simultaneous interpretation of experimental data corresponding to the reflectance from the ambient side, reflectance from thesubstrate side and transmittance of the chalcogenide films deposited onto the glass substrate. It is shown that this method is usable for the optical characterization of the chalcogenide films even when these films exhibit an inhomogeneity formed by a refractive index profile. Within this method our dispersion model of the optical constants of amorphous materials is used. This means that the values of the dispersion parameters determining the spectral dependences of the optical constants of the As-S chalcogenide material are evaluated. In the paper the advantages of the combined method mentioned are discussed from the practical point of view.

Název v anglickém jazyce

Complete Optical Analysis of Amorphous As-S Chalcogenide Thin Films by the Combined Spectrophotometric Method

Popis výsledku anglicky

In this paper a combined spectrophotometric method is used to analyzed As-S chalcogenide thin films. This method is based on the simultaneous interpretation of experimental data corresponding to the reflectance from the ambient side, reflectance from thesubstrate side and transmittance of the chalcogenide films deposited onto the glass substrate. It is shown that this method is usable for the optical characterization of the chalcogenide films even when these films exhibit an inhomogeneity formed by a refractive index profile. Within this method our dispersion model of the optical constants of amorphous materials is used. This means that the values of the dispersion parameters determining the spectral dependences of the optical constants of the As-S chalcogenide material are evaluated. In the paper the advantages of the combined method mentioned are discussed from the practical point of view.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2001

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Optoelectronics and Advanced Materials

ISSN

1454-4164

e-ISSN

—

Svazek periodika

3

Číslo periodika v rámci svazku

4

Stát vydavatele periodika

RU - Ruská federace

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

873

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—