Vliv hrotu mikroskopu atomové síly na fraktálovou a multi-fraktálovou analýzu vlastností náhodně drsných povrchů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F05%3A00015082" target="_blank" >RIV/00216224:14310/05:00015082 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces

Popis výsledku v původním jazyce

In this chapter several fractal and multi-fractal analysis methods are studied to characterize their efficiency on evaluating fractal properties of randomly rough surfaces. Moreover, results concerning estimation of atomic force microscopy (AFM) tip influence on evaluation of fractal properties of rough surfaces are presented. Randomly rough surfaces are simulated by means of spectral synthesis method and AFM tip convolution with the simulated surface is numerically performed. The results of the fractaland multi-fractal analysis before and after tip convolution are compared. It is shown that significant discrepancies can be observed between different fractal analysis methods applied on the same simulated data. This fact is true in particular if the data are convolved with AFM tip having relatively large apex radius in comparison to objects forming surface roughness

Název v anglickém jazyce

Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces

Popis výsledku anglicky

In this chapter several fractal and multi-fractal analysis methods are studied to characterize their efficiency on evaluating fractal properties of randomly rough surfaces. Moreover, results concerning estimation of atomic force microscopy (AFM) tip influence on evaluation of fractal properties of rough surfaces are presented. Randomly rough surfaces are simulated by means of spectral synthesis method and AFM tip convolution with the simulated surface is numerically performed. The results of the fractaland multi-fractal analysis before and after tip convolution are compared. It is shown that significant discrepancies can be observed between different fractal analysis methods applied on the same simulated data. This fact is true in particular if the data are convolved with AFM tip having relatively large apex radius in comparison to objects forming surface roughness

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro-and Nanometer Range

ISBN

3-527-40502-X

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

11

Strana od-do

452-462

Název nakladatele

Wiley-VCH Verlag GmbH and Co. KGaA

Místo vydání

Weinheim 2005

Místo konání akce

Weinheim 2005

Datum konání akce

1. 1. 2005

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—