Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Artefakty v elipsometrii s rotačním kompenzátorem: analýza a zacházení s daty

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F08%3A00026013" target="_blank" >RIV/00216224:14310/08:00026013 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Multiplate misalignment artifacts in rotating-complensator ellipsometry: Analysis and data treatment

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Rotating compensator ellipsometry using multi-plate retarders can suffer from various artifacts. Our measurements in the range from 1.4 to 6.2 eV revealed spurious oscillations in ellipsometric parameters. We assign these oscillations to the angular misalignment between the individual plates of the retarder. A simple model using Mueller matrix framework is constructed to describe the observed effects and to elucidate the origin of the artifacts. The model is used to predict the impact of the artifacts on the results of signal analysis, and a calibration procedure is presented. Finally, the knowledge of the origin of the artifacts has been successfully used to reduce substantially the spurious oscillations in measured data.

  • Název v anglickém jazyce

    Multiplate misalignment artifacts in rotating-complensator ellipsometry: Analysis and data treatment

  • Popis výsledku anglicky

    Rotating compensator ellipsometry using multi-plate retarders can suffer from various artifacts. Our measurements in the range from 1.4 to 6.2 eV revealed spurious oscillations in ellipsometric parameters. We assign these oscillations to the angular misalignment between the individual plates of the retarder. A simple model using Mueller matrix framework is constructed to describe the observed effects and to elucidate the origin of the artifacts. The model is used to predict the impact of the artifacts on the results of signal analysis, and a calibration procedure is presented. Finally, the knowledge of the origin of the artifacts has been successfully used to reduce substantially the spurious oscillations in measured data.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2008

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    physica status solidi (c)

  • ISSN

    1610-1634

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    5

  • Číslo periodika v rámci svazku

    5

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

    000256862500015

  • EID výsledku v databázi Scopus