Utilization of synchrotron radiation for in-situ diffusion studies

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F08%3A00027765" target="_blank" >RIV/00216224:14310/08:00027765 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Utilization of synchrotron radiation for in-situ diffusion studies

Popis výsledku v původním jazyce

We have investigated SiGe/Si and SiGe/Ge multilayers annealed in-situ at temperatures in the range 680-800 C by x-ray diffraction.

Název v anglickém jazyce

Utilization of synchrotron radiation for in-situ diffusion studies

Popis výsledku anglicky

We have investigated SiGe/Si and SiGe/Ge multilayers annealed in-situ at temperatures in the range 680-800 C by x-ray diffraction.

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů