Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Structural and Mechanical Properties of Nanostructured C-Ag Thin Films Synthesized by Thermionic Vacuum Arc Method

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F18%3A00101808" target="_blank" >RIV/00216224:14310/18:00101808 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1155/2018/9632041" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1155/2018/9632041</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1155/2018/9632041" target="_blank" >10.1155/2018/9632041</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Structural and Mechanical Properties of Nanostructured C-Ag Thin Films Synthesized by Thermionic Vacuum Arc Method

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Nanostructured C-Ag thin films of 200nm thickness were successfully synthesized by theThermionic Vacuum Arc (TVA) method. The influence of different substrates (glass, silicon wafers, and stainless steel) on the microstructure, morphology, and mechanical properties of nanostructured C-Ag thin films was characterized byHigh-Resolution Transmission ElectronMicroscopy (HRTEM), Scanning Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM), and TI 950 (Hysitron) nanoindenter equipped with Berkovich indenter, respectively

  • Název v anglickém jazyce

    Structural and Mechanical Properties of Nanostructured C-Ag Thin Films Synthesized by Thermionic Vacuum Arc Method

  • Popis výsledku anglicky

    Nanostructured C-Ag thin films of 200nm thickness were successfully synthesized by theThermionic Vacuum Arc (TVA) method. The influence of different substrates (glass, silicon wafers, and stainless steel) on the microstructure, morphology, and mechanical properties of nanostructured C-Ag thin films was characterized byHigh-Resolution Transmission ElectronMicroscopy (HRTEM), Scanning Electron Microscopy (SEM), Atomic Force Microscopy (AFM), and TI 950 (Hysitron) nanoindenter equipped with Berkovich indenter, respectively

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA15-17875S" target="_blank" >GA15-17875S: Lokální mikrostrukturní změny vyvolané statickou a dynamickou indentací nanostrukturovaných a nanolaminovaných povlaků</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Nanomaterials

  • ISSN

    1687-4110

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    2018

  • Číslo periodika v rámci svazku

    ID 9632041

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

    1-10

  • Kód UT WoS článku

    000427170700001

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85044172353