Fault Collapsing and Test Generation for a Circuits

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14330%2F13%3A00065527" target="_blank" >RIV/00216224:14330/13:00065527 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Fault Collapsing and Test Generation for a Circuits
Popis výsledku v původním jazyce
A novel method to generate a complete list of faults and their corresponding test vectors for a gate-level circuit is presented. This method creates the distinguishable faults of a circuit based on the paths they propagate, along with the test vector(s)for each fault. While the other available methods for fault list and test vector generation are expensive, this method tries to reduce the cost by avoiding all the unnecessary steps and merging the two tasks together.
Název v anglickém jazyce
Fault Collapsing and Test Generation for a Circuits
Popis výsledku anglicky
A novel method to generate a complete list of faults and their corresponding test vectors for a gate-level circuit is presented. This method creates the distinguishable faults of a circuit based on the paths they propagate, along with the test vector(s)for each fault. While the other available methods for fault list and test vector generation are expensive, this method tries to reduce the cost by avoiding all the unnecessary steps and merging the two tasks together.

Projekt
<a href="/cs/project/TA01011383" target="_blank" >TA01011383: Digitální spektrometrický systém jaderného záření</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)