One-dimensional autocorrelation and power spectrum density functions of irregular regions

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14740%2F13%3A00065787" target="_blank" >RIV/00216224:14740/13:00065787 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00177016:_____/13:#0000813 RIV/00216305:26620/13:PU102034 RIV/00177016:_____/13:#0001047

Výsledek na webu

<a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399112002069" target="_blank" >http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399112002069</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2012.08.002" target="_blank" >10.1016/j.ultramic.2012.08.002</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

One-dimensional autocorrelation and power spectrum density functions of irregular regions

Popis výsledku v původním jazyce

Scanning probe microscopy (SPM) can be effectively used for evaluation of nanoscale roughness of surfaces obtained by different technological processes. Spectral properties of surface roughness can be evaluated using algorithms based on Fast Fourier Transform (FFT). For data that are not rectangular, this approach, however fails. In this paper we describe a modification of SPM data evaluation algorithms enabling to use FFT based approach even for irregular and non-continuous data. This opens novel possibilities in analysis of local surface roughness in many fields, e.g. on nanoparticles, semiconductor structures or any other nanostructured samples prepared using nanotechnology methods. Together with theoretical description of proposed method we presentbenchmarks for its performance and typical results of its application on different samples.

Název v anglickém jazyce

One-dimensional autocorrelation and power spectrum density functions of irregular regions

Popis výsledku anglicky

Scanning probe microscopy (SPM) can be effectively used for evaluation of nanoscale roughness of surfaces obtained by different technological processes. Spectral properties of surface roughness can be evaluated using algorithms based on Fast Fourier Transform (FFT). For data that are not rectangular, this approach, however fails. In this paper we describe a modification of SPM data evaluation algorithms enabling to use FFT based approach even for irregular and non-continuous data. This opens novel possibilities in analysis of local surface roughness in many fields, e.g. on nanoparticles, semiconductor structures or any other nanostructured samples prepared using nanotechnology methods. Together with theoretical description of proposed method we presentbenchmarks for its performance and typical results of its application on different samples.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Ultramicroscopy

ISSN

0304-3991

e-ISSN

—

Svazek periodika

124

Číslo periodika v rámci svazku

Jan

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

13-19

Kód UT WoS článku

000311823700003

EID výsledku v databázi Scopus

—