Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216275%3A25310%2F10%3A39896070" target="_blank" >RIV/00216275:25310/10:39896070 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu spočívá v tom, že se měří světelná propustnost (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu a jednak kontinuálně se měnící světelná propustnost (T{SUB}e{/SUB}) transparentní mikrovrstvy stejného materiálu, mající známou a kontinuálně se měnící tloušťku, umístěnou v optickém kalibru, přičemž porovnáním světelné propustnosti (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu se shodnou světelnou propustností (T{SUB}e{/SUB}) známé tloušťky transparentní mikrovrstvy stejného materiálu v optickém kalibru se stanoví tloušťka transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu. Optický kalibr (7) je optický lineární klín (13) nebo optický sférický klín (12) tvořený prvním skleněným členem, na kterém je nanesena barvová mikrovrstva (8) vytvořená přiložením příslušně tvarovaného druhého skleněného členu na první skleněný člen, přičemž barvo

  • Název v anglickém jazyce

    Measurement of thickness of transparent microlayers on a transparent substrate and optical caliber

  • Popis výsledku anglicky

    Measurement of thickness of transparent microlayers on a transparent substrate is that it measures the light transmittance (T) mikrovrstvy transparent material deposited on a transparent substrate and a second continuously varying luminous transmittance(T {SUB} e {/ SUB}) mikrovrstvy same transparent material having known and continuously varying thickness, placed in an optical gauge, while comparing the light transmittance (T) mikrovrstvy transparent material deposited on a transparent substrate withthe same luminous transmittance (T {SUB} e {/ SUB}) of known thickness transparent mikrovrstvy same material in the optical gauge the thickness of the transparent mikrovrstvy material deposited on a transparent substrate.

Klasifikace

  • Druh

    P - Patent

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2010

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Číslo patentu nebo vzoru

    301842

  • Vydavatel

    CZ001 -

  • Název vydavatele

    Industrial Property Office

  • Místo vydání

    Prague

  • Stát vydání

    CZ - Česká republika

  • Datum přijetí

    27. 5. 2010

  • Název vlastníka

    Fakulta chemicko-technologická Univerzita Pardubice, Pardubice, CZ

  • Způsob využití

    A - Výsledek využívá pouze poskytovatel

  • Druh možnosti využití

    A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence