Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216275%3A25310%2F10%3A39896070" target="_blank" >RIV/00216275:25310/10:39896070 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu a optický kalibr
Popis výsledku v původním jazyce
Měření tloušťky transparentních mikrovrstev na transparentním substrátu spočívá v tom, že se měří světelná propustnost (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu a jednak kontinuálně se měnící světelná propustnost (T{SUB}e{/SUB}) transparentní mikrovrstvy stejného materiálu, mající známou a kontinuálně se měnící tloušťku, umístěnou v optickém kalibru, přičemž porovnáním světelné propustnosti (T) transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu se shodnou světelnou propustností (T{SUB}e{/SUB}) známé tloušťky transparentní mikrovrstvy stejného materiálu v optickém kalibru se stanoví tloušťka transparentní mikrovrstvy materiálu naneseného na transparentním substrátu. Optický kalibr (7) je optický lineární klín (13) nebo optický sférický klín (12) tvořený prvním skleněným členem, na kterém je nanesena barvová mikrovrstva (8) vytvořená přiložením příslušně tvarovaného druhého skleněného členu na první skleněný člen, přičemž barvo
Název v anglickém jazyce
Measurement of thickness of transparent microlayers on a transparent substrate and optical caliber
Popis výsledku anglicky
Measurement of thickness of transparent microlayers on a transparent substrate is that it measures the light transmittance (T) mikrovrstvy transparent material deposited on a transparent substrate and a second continuously varying luminous transmittance(T {SUB} e {/ SUB}) mikrovrstvy same transparent material having known and continuously varying thickness, placed in an optical gauge, while comparing the light transmittance (T) mikrovrstvy transparent material deposited on a transparent substrate withthe same luminous transmittance (T {SUB} e {/ SUB}) of known thickness transparent mikrovrstvy same material in the optical gauge the thickness of the transparent mikrovrstvy material deposited on a transparent substrate.
Klasifikace
Druh
P - Patent
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Číslo patentu nebo vzoru
301842
Vydavatel
CZ001 -
Název vydavatele
Industrial Property Office
Místo vydání
Prague
Stát vydání
CZ - Česká republika
Datum přijetí
27. 5. 2010
Název vlastníka
Fakulta chemicko-technologická Univerzita Pardubice, Pardubice, CZ
Způsob využití
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Druh možnosti využití
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence