Co-sputtered amorphous Ge-Sb-Se thin films: Optical properties and structure
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216275%3A25310%2F17%3A39911168" target="_blank" >RIV/00216275:25310/17:39911168 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2264726" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.2264726</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2264726" target="_blank" >10.1117/12.2264726</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Co-sputtered amorphous Ge-Sb-Se thin films: Optical properties and structure
Popis výsledku v původním jazyce
The amorphous Ge-Sb-Se thin films were fabricated by a rf-magnetron co-sputtering technique employing the following cathodes: GeSe2, Sb2Se3 and Ge28Sb12Se60. In the present work, the influence of the composition determined by energy-dispersive X-ray spectroscopy on the optical properties was studied. Optical bandgap energy was determined using variable angle spectroscopic ellipsometry. The morphology and topography of the selenide sputtered films was studied by scanning electron microscopy and atomic force microscopy.
Název v anglickém jazyce
Co-sputtered amorphous Ge-Sb-Se thin films: Optical properties and structure
Popis výsledku anglicky
The amorphous Ge-Sb-Se thin films were fabricated by a rf-magnetron co-sputtering technique employing the following cathodes: GeSe2, Sb2Se3 and Ge28Sb12Se60. In the present work, the influence of the composition determined by energy-dispersive X-ray spectroscopy on the optical properties was studied. Optical bandgap energy was determined using variable angle spectroscopic ellipsometry. The morphology and topography of the selenide sputtered films was studied by scanning electron microscopy and atomic force microscopy.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20506 - Coating and films
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
NONLINEAR OPTICS AND APPLICATIONS X
ISBN
—
ISSN
0277-786X
e-ISSN
neuvedeno
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
"1022803-1"-"1022803-7"
Název nakladatele
SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING
Místo vydání
BELLINGHAM
Místo konání akce
Prague
Datum konání akce
24. 4. 2017
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000407115600001