Temperature dependence of 1/f noise and transport characteristics as non-destructive testing of monocrystalline silicon solar cells
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26110%2F00%3A22200039" target="_blank" >RIV/00216305:26110/00:22200039 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Temperature dependence of 1/f noise and transport characteristics as non-destructive testing of monocrystalline silicon solar cells
Popis výsledku v původním jazyce
Dependence of the noise spectral voltage density Sv(f) in the frequency range 1 Hz to 10 Hz and transport characteristic for a monocrystalline silicon solar cells have been investigated. The magnitude of the noise spectra for the Si solar cell shows a decrease of noise magnitude with increasing temperature between 300K to 400 K. Also for I-V curves, both recombination-generation and diffusion current components are increases with temperature.
Název v anglickém jazyce
Temperature dependence of 1/f noise and transport characteristics as non-destructive testing of monocrystalline silicon solar cells
Popis výsledku anglicky
Dependence of the noise spectral voltage density Sv(f) in the frequency range 1 Hz to 10 Hz and transport characteristic for a monocrystalline silicon solar cells have been investigated. The magnitude of the noise spectra for the Si solar cell shows a decrease of noise magnitude with increasing temperature between 300K to 400 K. Also for I-V curves, both recombination-generation and diffusion current components are increases with temperature.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2000
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
15th World Conference of Non-Destructive Testing
ISBN
—
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Název nakladatele
Italian Society for Non-Destructvie Testing Monitoring Diagnostics
Místo vydání
Roma
Místo konání akce
—
Datum konání akce
—
Typ akce podle státní příslušnosti
—
Kód UT WoS článku
—