Impulse noise in silicon solar cells

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26110%2F01%3APU24208" target="_blank" >RIV/00216305:26110/01:PU24208 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Impulse noise in silicon solar cells

Popis výsledku v původním jazyce

Noise measured across forward-biased silicon single-crystal solar cells may serve as a non-destructive reliability indicator. Burst noise, whose source consists of defects in the p-n junction space-charge region, was detected on a number of silicon single-crystal solar cells.

Název v anglickém jazyce

Impulse noise in silicon solar cells

Popis výsledku anglicky

Noise measured across forward-biased silicon single-crystal solar cells may serve as a non-destructive reliability indicator. Burst noise, whose source consists of defects in the p-n junction space-charge region, was detected on a number of silicon single-crystal solar cells.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA102%2F04%2F0142" target="_blank" >GA102/04/0142: Šumová spektroskopie pro rychlé nedestruktivní testování kvality, spolehlivosti a životnosti solárních článků</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2001

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Microelectronic Reliability

ISSN

0026-2692

e-ISSN

—

Svazek periodika

32

Číslo periodika v rámci svazku

9

Stát vydavatele periodika

BE - Belgické království

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

707-711

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—