Numerical correction of topography artifacts in scanning thermal microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26110%2F15%3APU117473" target="_blank" >RIV/00216305:26110/15:PU117473 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00177016:_____/15:#0001224

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Numerical correction of topography artifacts in scanning thermal microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

A numerical model based on finite element method has been used for simulation of the measurement process using scanning thermal microscopy. As a result, thermal conductivity of carbon nanotubes has been determined.

Název v anglickém jazyce

Numerical correction of topography artifacts in scanning thermal microscopy

Popis výsledku anglicky

A numerical model based on finite element method has been used for simulation of the measurement process using scanning thermal microscopy. As a result, thermal conductivity of carbon nanotubes has been determined.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JB - Senzory, čidla, měření a regulace

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

CONFERENCE PROCEEDINGS NANOCON 2015

ISBN

978-80-87294-63-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

1-6

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Neuveden

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

14. 10. 2015

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—