Noncontact Scanning Force Microscopy - Principles and Simulations

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F01%3APU23115" target="_blank" >RIV/00216305:26210/01:PU23115 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Noncontact Scanning Force Microscopy - Principles and Simulations
Popis výsledku v původním jazyce
In the contribution, some fundamental phenomena in noncontact Scanning Force Microscopy (SFM) are studied. In this technique, the surface profile is measured by changes of resonance frequency of the vibrating cantilever. In the first part, the basic principles of noncontact SFM are described. Simulations of a tip moving and oscillating over a silicon atomic structure will be discussed in the second part.
Název v anglickém jazyce
Noncontact Scanning Force Microscopy - Principles and Simulations
Popis výsledku anglicky
In the contribution, some fundamental phenomena in noncontact Scanning Force Microscopy (SFM) are studied. In this technique, the surface profile is measured by changes of resonance frequency of the vibrating cantilever. In the first part, the basic principles of noncontact SFM are described. Simulations of a tip moving and oscillating over a silicon atomic structure will be discussed in the second part.

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)