Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F03%3APU40933" target="_blank" >RIV/00216305:26210/03:PU40933 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry
Popis výsledku v původním jazyce
For applying this method the special experimental arrangement containing CCD camera as a detector is used. The spectral dependences of the local reflectances are obtained. After treating these experimental data the distributions of the values of the local thicknesses and local refractive index along a large area of the substrates of the nonuniform films are found.
Název v anglickém jazyce
Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry
Popis výsledku anglicky
For applying this method the special experimental arrangement containing CCD camera as a detector is used. The spectral dependences of the local reflectances are obtained. After treating these experimental data the distributions of the values of the local thicknesses and local refractive index along a large area of the substrates of the nonuniform films are found.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of SPIE
ISBN
0-8194-5055-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
12
Strana od-do
260-271
Název nakladatele
SPIE-The International Society for Optical Engineering
Místo vydání
Bellingham, Washington, USA
Místo konání akce
San Diego, California USA
Datum konání akce
3. 8. 2003
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—