Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F03%3A00008532" target="_blank" >RIV/00216224:14310/03:00008532 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this paper, a new optical method for characterizing nonuniform thin films is employed. For applying this method the special experimental arrangement containing CCD camera as a detector is used. Using this experimental arrangement the spectral dependences of the local reflectances are obtained. After treating these experimental data the distributions of the values of the local thicknesses and local refractive index along a large areas of the substrates of the nonuniform films are found. Moreover, it is shown that this method can be used to determine strong nonuniformities in both the optical parameters.

  • Název v anglickém jazyce

    Characterization of thin films non-uniform in optical parameters by spectroscopic digital reflectometry

  • Popis výsledku anglicky

    In this paper, a new optical method for characterizing nonuniform thin films is employed. For applying this method the special experimental arrangement containing CCD camera as a detector is used. Using this experimental arrangement the spectral dependences of the local reflectances are obtained. After treating these experimental data the distributions of the values of the local thicknesses and local refractive index along a large areas of the substrates of the nonuniform films are found. Moreover, it is shown that this method can be used to determine strong nonuniformities in both the optical parameters.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2003

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Proceedings of SPIE

  • ISSN

    0277-786X

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    5182

  • Číslo periodika v rámci svazku

    2

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    11

  • Strana od-do

    260-271

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus