Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Strukture gallia na povrchu Si(111)-(7 x 7): vliv teploty a pokrytí

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F07%3APU63797" target="_blank" >RIV/00216305:26210/07:PU63797 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Gallium structure on the Si(111)-(7 x 7) surface: influence of Ga coverage and temperature

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The results of gallium deposition on the Si(111)-(7 x 7) surface at different substrate temperatures (-183, RT, 300, 490 and 530 C) as well as the influence of subsequent annealing of the prepared layers are presented. The gallium structure was monitoredby low-energy electron diffraction (LEED) and synchrotron radiation photoelectron spectroscopy (SR-PES). A detailed analysis of photoelectron spectra was carried out and three different Ga 3d peak components recognized.the first one was related to the (R3xR3) R30 reconstruction, the second to gallium island bases, and the third one to metallic gallium deposited on these bases. Depending on substrate temperature either only the island bases were formed (over 490 C) or these bases were covered with extragallium atoms in an additional layer (300 C). In the case of room (low) temperature deposition only a weak interaction of gallium with the (7x7) substrate and a non-ordered growth were found. If the gallium coverage exceeded a critical v

  • Název v anglickém jazyce

    Gallium structure on the Si(111)-(7 x 7) surface: influence of Ga coverage and temperature

  • Popis výsledku anglicky

    The results of gallium deposition on the Si(111)-(7 x 7) surface at different substrate temperatures (-183, RT, 300, 490 and 530 C) as well as the influence of subsequent annealing of the prepared layers are presented. The gallium structure was monitoredby low-energy electron diffraction (LEED) and synchrotron radiation photoelectron spectroscopy (SR-PES). A detailed analysis of photoelectron spectra was carried out and three different Ga 3d peak components recognized.the first one was related to the (R3xR3) R30 reconstruction, the second to gallium island bases, and the third one to metallic gallium deposited on these bases. Depending on substrate temperature either only the island bases were formed (over 490 C) or these bases were covered with extragallium atoms in an additional layer (300 C). In the case of room (low) temperature deposition only a weak interaction of gallium with the (7x7) substrate and a non-ordered growth were found. If the gallium coverage exceeded a critical v

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LC06040" target="_blank" >LC06040: Struktury pro nanofotoniku a nanoelektroniku</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Physics: Condensed Matter

  • ISSN

    0953-8984

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    19

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    15

  • Strana od-do

    016011-16025

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus