Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Selektivní růst kobaltových ostrůvků na nukleačních místech vytvořených pomocí fokusovaného iontového svazku ve vrstvě nativního SiO2

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F09%3APU80279" target="_blank" >RIV/00216305:26210/09:PU80279 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Selective growth of Co islands on ion beam induced nucleation centers in a native SiO2 film

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We present a straightforward method for fabrication of patterns of metallic nanostructures. The focused ion beam lithography (FIB) has been used to locally modify a native SiO2 layer on a silicon substrate. On the modified areas preferential nucleation of cobalt islands is observed. The cobalt islands formed upon deposition at 400 - 430 C combined with an intermediate annealing at 550 C have a uniform size distribution and their size can be controlled by the distance between the nucleation sites and theamount of deposited material. It is proposed that the island formation at patterned sites is due to reduced surface diffusion of Co atoms in the vicinity of FIB modified areas. The intermediate annealing improves the island morphology since the kineticdiffusion limits are lowered and system reconfigures towards its equilibrium state.

  • Název v anglickém jazyce

    Selective growth of Co islands on ion beam induced nucleation centers in a native SiO2 film

  • Popis výsledku anglicky

    We present a straightforward method for fabrication of patterns of metallic nanostructures. The focused ion beam lithography (FIB) has been used to locally modify a native SiO2 layer on a silicon substrate. On the modified areas preferential nucleation of cobalt islands is observed. The cobalt islands formed upon deposition at 400 - 430 C combined with an intermediate annealing at 550 C have a uniform size distribution and their size can be controlled by the distance between the nucleation sites and theamount of deposited material. It is proposed that the island formation at patterned sites is due to reduced surface diffusion of Co atoms in the vicinity of FIB modified areas. The intermediate annealing improves the island morphology since the kineticdiffusion limits are lowered and system reconfigures towards its equilibrium state.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Aplied Physics

  • ISSN

    0021-8979

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    105

  • Číslo periodika v rámci svazku

    8

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus