Imaging of lattice orientation and deformations by electron channelling contrast imaging compared with low voltage imaging and EBSD

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F16%3APU121493" target="_blank" >RIV/00216305:26210/16:PU121493 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://imse.fme.vutbr.cz/images/umvi/aktuality/mikulov_2016/sbornik_2016.pdf" target="_blank" >http://imse.fme.vutbr.cz/images/umvi/aktuality/mikulov_2016/sbornik_2016.pdf</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Imaging of lattice orientation and deformations by electron channelling contrast imaging compared with low voltage imaging and EBSD

Popis výsledku v původním jazyce

The characterization of material structure, lattice orientation or deformation structures is commonly performed by transmission electron microscopy. TEM presents some disadvantages like sample preparation, requiring extremly thin samples and reduced observation area. The coupling of electron channelling contrast imaging (ECCI) with EBSD provides an efficient substitute for TEM technique. SEM-ECCI is powerful, rapid and non destructive structural characterisation technique for imaging orientation and defects in bulk crystalline materials. This paper describes electron channelling contrast imaging of simple copper material. This is because of copper is clearly defined materials with well known structure and serves to explain the nature of phenomenon.

Název v anglickém jazyce

Imaging of lattice orientation and deformations by electron channelling contrast imaging compared with low voltage imaging and EBSD

Popis výsledku anglicky

The characterization of material structure, lattice orientation or deformation structures is commonly performed by transmission electron microscopy. TEM presents some disadvantages like sample preparation, requiring extremly thin samples and reduced observation area. The coupling of electron channelling contrast imaging (ECCI) with EBSD provides an efficient substitute for TEM technique. SEM-ECCI is powerful, rapid and non destructive structural characterisation technique for imaging orientation and defects in bulk crystalline materials. This paper describes electron channelling contrast imaging of simple copper material. This is because of copper is clearly defined materials with well known structure and serves to explain the nature of phenomenon.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JJ - Ostatní materiály

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2016

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

MULTI-SCALE DESIGN OF ADVANCED MATERIALS CONFERENCE PROCEEDINGS

ISBN

978-80-214-5358-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

11

Strana od-do

2-12

Název nakladatele

Brno University of Technology

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Mikulov

Datum konání akce

2. 6. 2016

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—