About the information depth of backscattered electron imaging
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F17%3APU128750" target="_blank" >RIV/00216305:26210/17:PU128750 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68081731:_____/17:00477097
Výsledek na webu
<a href="https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1111/jmi.12542" target="_blank" >https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1111/jmi.12542</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1111/jmi.12542" target="_blank" >10.1111/jmi.12542</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
About the information depth of backscattered electron imaging
Popis výsledku v původním jazyce
he information depth of imaging with backscattered electrons in the scanning electron microscope was measured directly by comparison of a planar view of a steel sample with buried precipitates with an image of a section cut through precipitates by means of a Focused Ion Beam attachment. The information depth was determined across the electron energy range of units of keV and the results were compared with information depths calculated from two published equations and simulated using widely available Monte Carlo‐based software. Recommendations are given for routine estimations of BSE information depths.
Název v anglickém jazyce
About the information depth of backscattered electron imaging
Popis výsledku anglicky
he information depth of imaging with backscattered electrons in the scanning electron microscope was measured directly by comparison of a planar view of a steel sample with buried precipitates with an image of a section cut through precipitates by means of a Focused Ion Beam attachment. The information depth was determined across the electron energy range of units of keV and the results were compared with information depths calculated from two published equations and simulated using widely available Monte Carlo‐based software. Recommendations are given for routine estimations of BSE information depths.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20301 - Mechanical engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Microscopy
ISSN
0022-2720
e-ISSN
1365-2818
Svazek periodika
266
Číslo periodika v rámci svazku
3 2017
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
335-342
Kód UT WoS článku
000401526500011
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85014109419