A simplified local surface photoreflectance measurement
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU22600" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU22600 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
A simplified local surface photoreflectance measurement
Popis výsledku v původním jazyce
A simple and economical photoreflectance measurement that can easily be adapted to conventional scanning optical microscopes is presented. In this design, the laser source is sine-wave modulated so that the second harmonic modulation distorsion within the optical probe beam before and after reflection off the sample surface can be monitored. The desired photoreflectance measurement, which is taken as the change of reflectance as a result of varying the incident optical power, is then obtained from the cchange in the ration of the fundamental and second-harmonic signals. The set-up and technique by measuring the implantation damage in nitrogen-implanted silicon samples is demonstrated.
Název v anglickém jazyce
A simplified local surface photoreflectance measurement
Popis výsledku anglicky
A simple and economical photoreflectance measurement that can easily be adapted to conventional scanning optical microscopes is presented. In this design, the laser source is sine-wave modulated so that the second harmonic modulation distorsion within the optical probe beam before and after reflection off the sample surface can be monitored. The desired photoreflectance measurement, which is taken as the change of reflectance as a result of varying the incident optical power, is then obtained from the cchange in the ration of the fundamental and second-harmonic signals. The set-up and technique by measuring the implantation damage in nitrogen-implanted silicon samples is demonstrated.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/OC%20523.40" target="_blank" >OC 523.40: Nanostruktury: Optické a elektrické charakteristiky</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of Materials structure and micromechanics fracture
ISBN
80-214-1892-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
439-444
Název nakladatele
VUTIUM
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
27. 6. 2001
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—