Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Stress Testing in the Evaluation the Reliability of Electronic Devices

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU24378" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU24378 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Stress Testing in the Evaluation the Reliability of Electronic Devices

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Reliability is basically a quality parameter which must be incorporated into the product. The reliability attributes must be established already at the design phase. With increasing device complexity, reliability becomes an elusive, but significant parameter to define and achieve. It also becomes more difficult to control, demonstrate, and ensure as an operational characteristic under the projected conditions of use by the customer. This article summarizes the conceptions of the evaluation of the reliabbility of electronic devices.

  • Název v anglickém jazyce

    Stress Testing in the Evaluation the Reliability of Electronic Devices

  • Popis výsledku anglicky

    Reliability is basically a quality parameter which must be incorporated into the product. The reliability attributes must be established already at the design phase. With increasing device complexity, reliability becomes an elusive, but significant parameter to define and achieve. It also becomes more difficult to control, demonstrate, and ensure as an operational characteristic under the projected conditions of use by the customer. This article summarizes the conceptions of the evaluation of the reliabbility of electronic devices.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA102%2F00%2F0938" target="_blank" >GA102/00/0938: Tlakový analyzátor</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2001

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Socrates Workshop 2001. Intensive Training Programme in Electronic System Design. Proceedings

  • ISBN

    80-214-2027-8

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    253-257

  • Název nakladatele

    Ing. Zdeněk Novotný, CSc., Brno, Ondráčkova 105

  • Místo vydání

    Crete 2001

  • Místo konání akce

    Chania, Crete, Greece

  • Datum konání akce

    3. 9. 2001

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku