Úhlové rozložení zpětně odražených elektronů v ESEM.

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU47229" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU47229 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Úhlové rozložení zpětně odražených elektronů v ESEM.
Popis výsledku v původním jazyce
Cílem práce bylo ověřit vliv prostorového úhlu sběru zpětně odražených elektronů na velikost detekovaného signálu v ESEM.
Název v anglickém jazyce
Angular distribution of backscattered electrons signal in Environmental Scanning Electron Microscopy
Popis výsledku anglicky
The aim of this work was to verify an influence of the collection solid angle on a magnitude of detected signal. The presented results of measurement was gained by an observation of the specimen of carbon covered with a thin layer of gold. The primary beam accelerating voltage was 20 kV. The collection solid angle was changed by application of aluminium masks with aperture diameters 2, 3, 4, 8, 16 mm mounted on scintillator. As a working environment in the specimen chamber were used air and saturated waater vapour.

Projekt
<a href="/cs/project/IBS2065107" target="_blank" >IBS2065107: Rastrovací elektronová mikroskopie pro výzkum struktury vlhkých materiálů</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)