Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Detekce zpětně odražených elektronů v ESEM.

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU39624" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU39624 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Detection of Backscattered Electrons in Environmental Scaning Electron Microscope

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Impact of primary electrons causes generation of signals in the environmental scanning electron microscope (ESEM). These signals can be subsequently detected. Secondary and the backscattered electrons are very often used to obtein information about the specimen. In ESEM secondary electrons are mostly detected by a scintillation detector.

  • Název v anglickém jazyce

    Detection of Backscattered Electrons in Environmental Scaning Electron Microscope

  • Popis výsledku anglicky

    Impact of primary electrons causes generation of signals in the environmental scanning electron microscope (ESEM). These signals can be subsequently detected. Secondary and the backscattered electrons are very often used to obtein information about the specimen. In ESEM secondary electrons are mostly detected by a scintillation detector.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA102%2F01%2F1271" target="_blank" >GA102/01/1271: Studium detekčních metod a systémů v hraničních podmínkách environmentální rastrovací elektronové mikroskopie</a><br>

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2003

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings 6th Multinational Congress on Microscopy

  • ISBN

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    489-490

  • Název nakladatele

  • Místo vydání

    Pula, Croatia

  • Místo konání akce

    Pula

  • Datum konání akce

    1. 6. 2003

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku