Newly Designed Ionisation Secondary Electron Detector with Electrostatic Separators for VP-ESEM
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F10%3A00353039" target="_blank" >RIV/68081731:_____/10:00353039 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Newly Designed Ionisation Secondary Electron Detector with Electrostatic Separators for VP-ESEM
Popis výsledku v původním jazyce
The basic philosophy of our improved ionization SE detector with electrostatic separators (ISEDS), is to optimize the physical principles of the detection in VPSEM or ESEM in order to achieve a higher purity of the secondary electron (SE) signal with a minimum of backscattered electrons (BSEs) and primary electrons (PEs) contribution and enable detection of this signal depending on energy, eventually on spatial distribution of signal electrons emitted from a sample.
Název v anglickém jazyce
Newly Designed Ionisation Secondary Electron Detector with Electrostatic Separators for VP-ESEM
Popis výsledku anglicky
The basic philosophy of our improved ionization SE detector with electrostatic separators (ISEDS), is to optimize the physical principles of the detection in VPSEM or ESEM in order to achieve a higher purity of the secondary electron (SE) signal with a minimum of backscattered electrons (BSEs) and primary electrons (PEs) contribution and enable detection of this signal depending on energy, eventually on spatial distribution of signal electrons emitted from a sample.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GAP102%2F10%2F1410" target="_blank" >GAP102/10/1410: Studium vlivu magnetického a elektrostatického pole na zesílení signálu sekundárních elektronů detekovaných novým detektorem pro VP-SEM.</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress
ISBN
978-85-63273-06-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
—
Název nakladatele
Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise
Místo vydání
Rio de Janeiro
Místo konání akce
Rio de Janeiro
Datum konání akce
19. 9. 2010
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—