Proces stárnutí tenkovrstvé struktury ZnS:Mn získané pomocí epitaxe atomových vrstvev pro EL panel

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU48566" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU48566 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Aging studies of atomic layer epitaxy ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent devices
Popis výsledku v původním jazyce
A study of the aging behavior of atomic layer epitaxy (ALE) ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent (ACTFEL) devices is undertaken by monitoring the internal charge-phosphor field (Q-Fp) and capacitance-voltage (C-V) characteristics as afunction of aging time. The electrical properties are asymmetrical with respect to the applied voltage pulse polarity; the aging characteristics of such devices are also asymmetric.
Název v anglickém jazyce
Aging studies of atomic layer epitaxy ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent devices
Popis výsledku anglicky
A study of the aging behavior of atomic layer epitaxy (ALE) ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent (ACTFEL) devices is undertaken by monitoring the internal charge-phosphor field (Q-Fp) and capacitance-voltage (C-V) characteristics as afunction of aging time. The electrical properties are asymmetrical with respect to the applied voltage pulse polarity; the aging characteristics of such devices are also asymmetric.

Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)