Moderní metody měření TFT senzorů

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F05%3APU52792" target="_blank" >RIV/00216305:26220/05:PU52792 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Modern TFT sensor measurement method
Popis výsledku v původním jazyce
This paper focuses to modern TFT sensors measurement method. This method used new design of a monolithic ASIC for measurement TFT sensor. The sensor applies alumina substrate prepared by thick film technology. The ASIC prototype in CMOS 0.7 ?m technologycontains analog measurement block and programmable digital calibration EPROM memory on one chip.
Název v anglickém jazyce
Modern TFT sensor measurement method
Popis výsledku anglicky
This paper focuses to modern TFT sensors measurement method. This method used new design of a monolithic ASIC for measurement TFT sensor. The sensor applies alumina substrate prepared by thick film technology. The ASIC prototype in CMOS 0.7 ?m technologycontains analog measurement block and programmable digital calibration EPROM memory on one chip.

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Moderní metody řešení, návrhu a aplikace elektronických obvodů
ISBN
80-214-3089-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
71-74
Název nakladatele
Nakl. Novotny
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
24. 10. 2005
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)